Описание

Это издание посвящено изучению воздействия ионизирующего излучения на современные электронные компоненты, от запоминающих устройств до сенсоров камер. Книга подробно рассматривает физические принципы радиационных эффектов и их влияние на работу кремниевых структур, что делает её полезным пособием для студентов технических специальностей и инженеров, углубляющихся в область радиационной стойкости аппаратуры. Материал построен так, чтобы последовательно раскрыть взаимосвязь между типами излучения, дозовыми нагрузками и изменением характеристик полупроводниковых приборов. В пособии детально разбираются механизмы сбоев в работе флеш-памяти и методы защиты сенсоров изображения от радиационных повреждений. Автор уделяет внимание практическим аспектам, включая моделирование отказов и способы повышения надёжности устройств, эксплуатируемых в условиях повышенного фона. Текст сопровождается схемами и графиками, помогающими визуализировать сложные процессы. Отдельная глава посвящена новейшим исследованиям в области радиационно-стойкой электроники, что позволяет оставаться в курсе современных тенденций. Это пособие подойдёт для углублённого изучения в рамках курса физики твёрдого тела или микроэлектроники. При работе с книгой рекомендуется базовое знание физики полупроводников. Информация изложена доступным языком, но предполагает наличие начальной технической подготовки, что делает её идеальным выбором для старшеклассников, интересующихся электроникой, и студентов профильных вузов. WolleBuy by Poizon - Гарантия оригинальности - Быстрая доставка - Поддержка 24/7 - После заказа ждите SMS со ссылкой на таможенные данные (в течение 10 мин).